公司動態_第(3)頁－上海波銘科學儀器有限公司

激光修復機優勢盤點
2023-03-16 激光修復機是一種利用激光技術進行材料表面修復的設備。它主要應用于微電子、光電子、航空航天、汽車制造等領域的高精度材料修復和加工。激光修復機可以對金屬、陶瓷、塑料等各種材料進行修復，具有加工精度高、加工速度快、加工質量好等特點。其主要原理是利用激光束對待修復的材料表面進行高能量密度的瞬間照射，使其表面產生蒸發、熔化等化學反應，從而實現材料表面的修復和加工。激光修復機的使用可以大大提高材料的修復效率和加工精度，同時也降低了材料的損耗和浪費，因此在芯片制造領域得到廣泛應用。通過高清...
顯微分光膜厚儀采用檢量線法和FP法，可防止在對焦時造成的損壞
2023-02-06 顯微分光膜厚儀利用光學干涉儀和自有的高精度分光光度計，實現非接觸、無損、高速、高精度的薄膜厚度測量。光學干涉測量法是一種使用分光光度計的光學系統獲得的反射率來確定光學膜厚的方法。以涂在金屬基板上的薄膜為例，從目標樣品上方入射的光被薄膜表面（R1）反射。此外，穿過薄膜的光在基板（金屬）和薄膜界面（R2）處被反射。測量此時由于光程差引起的相移所引起的光學干涉現象，并根據得到的反射光譜和折射率計算膜厚的方法稱為光學干涉法。顯微分光膜厚儀的作用特點：1、自動對焦作用。配備激光自動對焦...
中階梯光譜儀具有穩態光譜的測量，可配CCD探測器
2022-11-29 中階梯光譜儀采用中階梯光柵+棱鏡色散的高通量光路設計,科學級制冷面陣CCD探測器，使其同時具備高分辨和高靈敏度特性，可以配合ICP光源及進樣系統組成ICP整機,也可搭建各種高分辨光譜測試系統，充分發揮其寬譜高分辨、高靈敏優勢。中階梯光譜儀產品特點：1、無轉動部件，全光譜無遺漏成像2、全譜范圍，高分辨率（0.03nm@200nm），干擾光譜重疊弱3、體積小,使用簡單，可在較小成像焦距下輕松獲得高的光譜分辨率4、根據需要獲取的信號性質不同，可以選配不同的探測器5、穩態光譜的測量，...
電致發光系統的主要技術特點有哪些
2022-07-27 電致發光系統是專業為發光材料發光光譜測量設計的電致發光/光致發光測試儀器,適合測量LED與發光材料發光特性和發光效率,并對發光元件特性優劣分析。電致發光系統采用4''PTFE高反射率積分球收集LED各角度發光,可能測量LED和發光材料。電致發光測試儀系統特點：針對新型電致發光材料設計、快速超低亮度0.1cd/m2測量能力；LED老化測量功能；外部量子效率測試；可與手套箱整合；具備NIR波段(700-1000nm)測試能力；LED全參數測定能力。電致發光系統采用PTFE積分球測...
射頻信號發生器的核心技術參數有哪些
2022-06-29 射頻信號發生器是一種電子測試設備，可在各種頻率上產生射頻信號，具有高光譜純度、穩定的頻率和振幅。射頻信號發生器與矢量信號發生器不同，矢量信號發生器產生射頻信號，但同時也具有復雜的數字調制能力，具有QPSK、QAM、FSK、BPSK和OFDM等格式；而射頻信號發生器提供的調制包括振幅調制(AM)、頻率調制(FM)、相位調制(PM)和脈沖調制。射頻信號發生器的核心參數：現在的測試測量設備中有許多是具有附加功能的射頻信號發生器，它們用于廣泛的應用中。射頻信號發生器各項參數從根本上可...
一文讀懂高光譜測試系統的測試原理及方法
2022-05-25 高光譜測試系統是高光譜相機、顯微鏡、計算機等結合的新型應用方式，借助顯微鏡結構在不同放大倍率下把待測試樣品的微觀尺度進一步的提升的特點，能夠充分觀察物質在其微觀尺度上的圖像信息，從而進一步獲取物質的光譜信息，這樣充分利用高光譜在光譜和圖像方面的優勢，結合顯微機構系統，把高光譜技術的應用又進一步進行了拓展。高光譜測試系統的測試原理及方法：高光譜成像技術是近二十年來發展起來的基于非常多窄波段的影像數據技術，其突出的應用是遙感探測領域，并在越來越多的民用領域有著更大的應用前景。它集...
淺談精密電動旋轉臺的主要特點和技術優勢
2022-03-28 精密電動旋轉臺通過電機驅動，實現角度調整自動化。精加工蝸輪蝸桿或齒輪傳動，角度調整無限。精密軸系設計，保證精密高，承載大；步進電機與傳動件通過進口高品質彈性聯軸器連接，排除空間和加工形位誤差。旋轉臺面外圈刻度直觀；標準接口，方便信號傳輸；手動手輪配置，電控手動均可。精密電動旋轉臺的產品特點：1、中空結構精密旋轉臺的轉盤為中空結構，伺服電機連接在側邊，方便冶具中的氣管、電線安裝。2、高剛性精密旋轉臺的轉盤由一套精密交叉滾子軸承支撐，軸承中的滾子呈90度交錯排列，并且滾子直徑略大...
你了解顯微分光膜厚儀的工作原理嗎
2022-02-11 顯微分光膜厚儀分為手持式和臺式二種，手持式又有磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。顯微分光膜厚儀的工作原理：采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁...

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