產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當前位置：首頁
產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)顯微缺陷膜厚
產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
薄膜到厚膜的測量范圍 UV~NIR光譜分析 高性能的低價光學薄膜量測儀 藉由絕對反射率光譜分析膜厚 完整繼承FE-3000高gao端機種90%的強大功能 無復雜設(shè)定，操作簡單
更新時間：2025-09-16
產(chǎn)品型號：
瀏覽量：1161
可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學常數(shù)。除了支持包括下一代尺寸在內(nèi)的大型玻璃基板外，它還支持 LCD、TFT 和有機 EL。
更新時間：2025-09-16產(chǎn)品型號：瀏覽量：886
●全面高速高精度進行薄膜等面內(nèi)膜厚不均一性檢測 ●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計 ●作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援 ●實現(xiàn)高精度測量（已取得專zhuan利） ●實現(xiàn)高速測量（500萬點以上/分）
更新時間：2025-09-16產(chǎn)品型號：瀏覽量：1049
●采用線掃描方式檢測整面薄膜 ●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計 ●作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援 ●實現(xiàn)高精度測量（已獲取專zhuan利） ●實現(xiàn)高速測量 ●不受偏差影響 ●可對應(yīng)寬幅樣品（TD方向最大可測量10m）
更新時間：2025-09-16產(chǎn)品型號：瀏覽量：1029
●通過分光光度分布對紫外光進行高精度測量 ●從配光上評估紫外光的最大發(fā)光強度、光束開度、光束光通量 ●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍 ●支持從 LED 芯片到模塊和應(yīng)用產(chǎn)品的廣泛樣品 ●用軟件批量控制電源和測量儀器
更新時間：2025-09-16產(chǎn)品型號：瀏覽量：723
●該檢測器是一種高性能的分光光度計，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項成果。 ●覆蓋從紫外線到可見光的寬波長范圍 ●帶軟件的樣品照明電源，測量儀器批量控制 ●LIV測量，脈沖點測量，樣品溫控測量 ●設(shè)備校準的標準燈由我們自己的部門提供，并由 JCSS 校準公司注冊。
更新時間：2025-09-16產(chǎn)品型號：瀏覽量：726公司郵箱： qgao@buybm.com
服務(wù)熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄創(chuàng)研智造C7區(qū)301室
Copyright © 2025 上海波銘科學儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
關(guān)于我們
公司簡介 企業(yè)文化 榮譽資質(zhì) 聯(lián)系我們快速通道
產(chǎn)品中心 新聞中心 技術(shù)文章 在線留言推薦產(chǎn)品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng) RU120便攜式拉曼光譜儀
