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產品簡介
ELSZ series的最zu高級機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。另外，也可實現測量粒子濃度測定、微流變學測定、凝膠的網狀結構分析。 全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發的對應高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環境下進行測量。
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● 可對應從稀薄到濃厚溶液（~40%）寬濃度范圍的粒徑和ZETA電位測量
● 通過多角度測定，可測量分辨率更高的粒徑分布
● 可以在高鹽濃度下測量平板樣品的ZETA電位
● 通過靜態光散射法可測量粒子的濃度
● 能過動態光散射法可測量微流變學
● 通過測量凝膠樣品在多個點的散射強度和擴散系數，可以分析凝膠的網絡結構和不均勻性
● 可以在0 ~ 90℃的寬溫度范圍內進行測量
● 通過溫度梯度功能，可對蛋白質等的變性及相變溫度進行解析
● 通過樣品池內的實測電氣浸透流圖分析，提供高精度的ZETA電位測量結果
● 可安裝熒光濾光器(選配
非常適用于界面化學、無機物質、半導體、聚合物、生物學、制藥和醫學領域的基礎研究和應用研究，不僅涉及微小顆粒，還涉及薄膜和平板表面的科學研究。
●新型功能材料領域
– 燃料電池相關（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）
– 納米生物相關（納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子）、納米氣泡等
●陶瓷/著色材料工業領域
– 陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等）
– 無機溶膠的表面改性/分散/聚集控制
– 顏料的分散/聚集控制（炭黑/有機顏料）
– 漿料狀樣品
– 濾光器
– 浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究
●半導體領域
– 異物附著在硅晶片表面的原理解析
– 研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究
– CMP漿料的相互作用
●聚合物/化工領域
– 乳液（涂料/粘合劑）的分散/聚集控制，乳膠的表面改性（醫藥/工業）
– 聚電解質（聚苯乙烯磺酸鹽，聚羧酸等）的功能研究
– 功能納米顆粒紙/紙漿造紙過程控制和紙漿添加劑研究
●制藥/食品工業領域
– 乳液（食品/香料/醫療/化妝品）分散/聚集控制及蛋白質的機能性檢測
– 脂質體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑（膠束）機能性檢測
由于溶液中的粒子根據粒子的大小在做布朗運動，粒子受到光照射時會得到的散射光。小粒子呈現快速波動，大粒子呈現緩慢波動。
通過光子相關法分析這種波動，就可以求得粒度和粒度分布。
對溶液中的粒子施加電場時，可以觀察到粒子電荷所對應的電泳動。籍由此電泳速度可以求得ZETA電位及電泳移動度。
電泳散射法將光照射在泳動中的粒子上得到散射光，根據散射光的多普勒位移量求得電泳速度。
因此也被稱之為激光多普勒（Laser Doppler）法。
測量ZETA電位時，在樣品池內的粒子除了會泳動外，還會產生電滲流。電滲流是指在樣品池內壁面帶有負電荷時，溶液中的正離子會聚集于壁面附近。如施加電場時，壁面附近的正離子會往負離子電極方向移動，并在樣品池內中央附近 產生的一種對流。
森·岡本公式 充分考慮電滲流后進行樣品池內泳動速度的解析
ELSZ Series通過實測樣品內多點觀察到的電泳移動度，可以確認測量數據內ZETA電位分布的再現性及判定雜質的波峰。
固體平板樣品池是將固體平板樣品緊密接觸于盒型石英樣品池上方而形成一體的構造。實測樣品池高度方向各層觀測粒子的電泳移動度，根據所得到的電滲流Profile可分析出固體表面電滲流速度，進而求得平板樣品表面的ZETA電位。
對于光不易穿透的高濃度樣品或有色樣品，由于受到多重散射和吸收等影響，以往使用的ELSZ series很難測量到所需結果。但現在，ELSZ series搭載的標準樣品池的測量范圍擴大，可測量稀溶液樣品及至高濃度溶液樣品，并且，通過采用FST法的高濃度樣品池可測量高濃度樣品領域的ZETA電位。
靜態光散射法可以輕松測量絕對分子量。
測量原理為，將光線照射在溶液分子上可以得到散射光，根據散射光的絕對值求取分子量，即利用了大分子可得到強散射光，小分子可得到弱散射光的現象。
實際上，因為濃度不同散射光強度也不同，實測數點不同濃度溶液的光散射強度，代入以下公式繪制圖示。橫軸為濃度，縱軸為與散射強度Kc/R（θ）相等的倒數。此方法也被稱為Debye圖示法。
籍由往零濃度（C=0）外插的倒數求取分子量Mw,并以此初期梯度可求得第二維里系數A2.
分子量較大的分子，散射強度會因角度而不同。
分子量籍由測量不同散射角度（θ）的散射強度不但可提高測精度，也可獲得分子擴散指標的回轉半徑。
以固定角度進行測量時，只要輸入推測的回轉半徑，角度將自行補正，可測量更高精度的分子量。
表示溶媒中分子間的排斥與吸引程度，更易于觀察溶劑分子的相容性與結晶化現象。
●A2為正時，代表溶劑相容性高，分子間排斥力強，更加穩定。
●A2為負時，代表溶劑相容性低，分子間吸引力強，易產生凝集。
●A2=0時，代表溶劑為理想溶劑，此時溫度被稱為理想溫度，排斥與吸引力處于平衡狀態，易產生結晶化。
●Zeta電位
●粒徑
●分子量
●粒子濃度
●微流變學測量
●凝膠網絡結構分析
| 測量原理 | 粒徑 | 動態光散射法（光子相關法） |
| ZETA電位 | 電泳光散射法（激光多普勒法） | |
| 分子量 | 靜態光散射法 | |
| 光學系統 | 粒徑 | 零差光學系統 |
| ZETA電位 | 外差光學 | |
| 分子量 | 零差光學系統 | |
| 光源 | 高功率半導體激光器 | |
| 探測器 | 高靈敏度APD | |
| 樣品池單元 | ZETA電位：標準池 微量一次性池或濃縮池 | |
| 粒度/分子量：方形池 | ||
| 溫度 | 0~90℃（帶溫度梯度功能） | |
| 電源 | 220V ± 10% 250VA | |
| 尺寸(WDH) | 330(W)×565(D)×245(H) | |
| 重量 | 22Kg | |
| ZETA電位 | No effective limitations（無有效上限） |
| 電氣移動度 | -2×10-5~ 2×10-5cm2/V·s |
| 粒徑 | 0.6nm~10um |
| 分子量 | 340 ～ 2×10*7 |
●對應范圍
| 測量溫度范圍 | 0~90℃ |
| 測量濃度范圍 | 粒徑：0.00001%（0.1ppm)~40%*1 |
（標準粒子：0.00001～10%、膽汁酸：～40%）
準樣品池套件
可測量粒子徑與ZETA電位電位的樣品池套件
粒徑測量套件
可測量粒徑的樣品池套件，可使用市面上的四角樣品槽
粒徑多角度樣品池套件
通過3個角度測量粒徑和分子量的樣品池套件
多角度測量，分辨率更高
通過從正面，側面和背面三個角度進行測量和分析，我們提供了具有更高分辨率的粒徑分布。
無法通過1個角度測量分離的樣品也可以通過3角度測量和分析分離為多個峰。
粒子濃度測定
可以通過靜態光散射法計算溶液中的粒子濃度。
微流變學測量
通過動態光散射法測量聚合物和蛋白質等軟結構的粘彈性。
凝膠網絡結構分析
通過測量凝膠樣品在多個點的散射強度和擴散系數，可以分析凝膠的網絡結構和不均勻性。
高鹽濃度下的平板固體樣品測量
用于測量平板狀樣品表面ZETA電位的新樣品池。新開發的高鹽濃度涂層能夠在高鹽濃度環境（154mM NaCl溶液）中進行測量。實現對生物相容性材料的評估。
寬濃度范圍的Zeta電位和粒徑測量
可測量濃度范圍從0.00001%(0.1PPM)的稀薄溶液到40%濃厚溶液的粒徑和ZETA電位。
可以在高鹽濃度下測量平板狀和薄膜狀樣品表面的ZETA電位
●易于組裝的結構，實現了不使用螺絲的結構
●配備簡易的涂層，客戶可自行進行涂層
●支持小尺寸樣品，10X10mm
可微量（130uL~）測量ZETA電位的Cell unit
可測量濃厚懸濁樣品的ZETA電位的Cell unit
可以測量非極性溶液的ZETA電位cell unit
也可對應介電常數在10以下的溶劑
可微量（3uL~）測量粒徑的Cell unit
可自動測量隨著不同pH值或添加劑濃度的粒徑/ZETA電位變化。
可以和Zeta電位平板樣品Cell相連。
可通過自動測量等電點縮短工作時間。
實測解析分子量時必bi不bu可少的參數dn/dc
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