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光致發光主要對材料能帶結構，雜質濃度和缺陷，組分機理以及材料質量進行檢測。 WT-2000PL專門針對PL應用開發，具有非接觸，快速，可變溫，光斑等特點。
更新時間：2025-06-24
產品型號：WT-2000PL
瀏覽量：841
Semilab PV-2000A是業界功能最（zui）先進的，用于晶硅太陽能電池片生產及光伏工藝研發的非接觸電學表征系統,以滿足硅片到成品電池片不同工藝控制的測試需求。
更新時間：2025-06-24產品型號：瀏覽量：799
LEI Model2017B，通過汞探針接觸方法，對各類半導體材料的載流子濃度分布進行測試，特別適合GaN.SiC等化合物材料。
更新時間：2025-06-24產品型號：LEI Model2017B瀏覽量：645
汞CV測試系統，用于對外延或前道工藝中的non-pattemed晶片做汞C-V測試; MCV-530L可測最大200mm的樣品。
更新時間：2025-06-24產品型號：瀏覽量：802
CV-1500，用于測試界面和介電層的科研平臺，基于SDI Corona-Kelvin技術，可以進行非接觸C-V/I-V測試。
更新時間：2025-06-24產品型號：瀏覽量：874公司郵箱： qgao@buybm.com
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